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白光干涉儀與臺(tái)階儀相比具有什么優(yōu)點(diǎn)?
白光干涉儀與臺(tái)階儀相比具有什么優(yōu)點(diǎn)?
更新時(shí)間:2021-12-20 | 點(diǎn)擊率:1075
白光干涉儀
是目前三維形貌測(cè)量領(lǐng)域精度最高的檢測(cè)儀器之一。
在同等放大倍率下,測(cè)量精度和重復(fù)性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡。在一些納米或者亞納米級(jí)別的超高精度加工領(lǐng)域,除了白光干涉儀,其它儀器達(dá)不到檢測(cè)的精度要求。
原理:
它是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度,干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距,光程差就改變一個(gè)波長(zhǎng)(~10-7米),所以干涉儀是以光波波長(zhǎng)為單位測(cè)量光程差的,其測(cè)量精度之高是任何其他測(cè)量方法所不能相比的。
白光干涉儀與臺(tái)階儀相比具有以下優(yōu)點(diǎn)
:
1、是非接觸高精密測(cè)量,不會(huì)劃傷甚至破壞工件;
2、是測(cè)量速度快,不必像探頭逐點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量;
3、是不必作探頭半徑補(bǔ)正,光點(diǎn)位置就是工件表面測(cè)量的位置;
4、是對(duì)高深寬比的溝槽結(jié)構(gòu),可以快速而精確的得到理想的測(cè)量結(jié)果。隨著白光干涉測(cè)量技術(shù)的發(fā)展和完善,白光干涉測(cè)量?jī)x器已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。在微電子、微機(jī)械、微光學(xué)等領(lǐng)域,白光干涉測(cè)量?jī)x器可以提供更高精度的檢測(cè)需求。
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